板の両端にある、ソースとドレインは、板から、結晶を「育てて」作ります。電気の出入り口をつくるだけなら、結晶を育てなくても、よさそうなものです。なぜ、わざわざ育てるのでしょうか。
答えは、育てた結晶で、板に「歪み」をかけるためです。この記事では、歪みが何をもたらすのか、GAAでは、なぜ歪みをかけにくくなったのかを、半導体の仕事を目指す方に向けて、順に説明します。
この記事は、これまでの記事の続きです。ここでは、板の両端のソースとドレインを、結晶成長でつくる工程を扱います。出典は、記事の最後にまとめています。
この記事でわかること
- この記事の目的:ソース・ドレインを結晶成長でつくる理由(歪み)を、つかむこと
- 前半:歪みとは何か、pチャネルとnチャネルで、どう使い分けるか
- 後半:GAAで歪みをかけにくくなった理由と、現場の工夫

- 板の両端から結晶を育てる
- それがソース・ドレイン
- 電気の出入り口になる
博士、ソースとドレインは、なぜ、わざわざ結晶を育てて作るんですか?
育てた結晶で、板に「歪み」をかけるためじゃ。
歪みをかけると、どうなるんですか?
電気が動きやすくなるんじゃよ。順に見ていこう。
何を、育てるのか:板の端から伸ばす結晶
前の記事では、板のあいだに、小さな壁(内側スペーサー)を入れました。そのあと、板の両端に、ソースとドレインをつくります。ソースとドレインは、板に電気が出入りする、入り口と出口です。
この、ソースとドレインは、板の、むき出しになった端の面から、結晶を「育てて」つくる方法が、一般的に使われています。これを、エピタキシャル成長(結晶の上に、結晶の層を育てる方法)といいます。板が単結晶なので、その端から育てる結晶も、単結晶になります。
確認クイズ:ソースとドレインは、板のどこから、結晶を育てますか?
答え:板の、むき出しになった端の面からです。
発想:結晶で、板に「歪み」をかける
ここで、育てる結晶に、もう1つの役目が加わります。育てた結晶を使って、板(電気の通り道)に、押したり引っぱったりする力をかけます。この、結晶の格子が、伸び縮みした状態を、「歪み」と呼びます。半導体の性能を上げるための方法として、チャネルの歪みを調整する技術は、重要だと考えられています。
ソース・ドレインを結晶成長でつくるもう1つの理由は、板に、歪みをかけるためです。

- 結晶の層を育てる
- エピタキシャル成長
- 板の端から伸ばす
確認クイズ:歪みとは、何ですか?
答え:結晶の格子が、伸び縮みした状態です。
pチャネルは、押し縮める:SiGeのソース・ドレイン
では、どうやって、歪みをかけるのでしょうか。pチャネルのトランジスタでは、ソース・ドレインに、SiGe(シリコンゲルマニウム)を育てます。SiGeは、シリコンより、結晶の格子の大きさが、大きい材料です。シリコンとゲルマニウムの格子の大きさは、約4.2%違い、SiGeの大きさは、その中間にあります。大きい格子の結晶が、シリコンの板の両端から、板を、まわりから押し縮めます。
押し縮められた板では、プラスの電気を運ぶ「正孔」が、動きやすくなる傾向があるとされています。正孔が動きやすくなれば、電気が流れやすく、トランジスタの性能が上がります。

- SiGeは格子が大きい
- 板を両側から押し縮める
- 正孔が動きやすくなる
確認クイズ:pチャネルの板を、押し縮めるために、ソース・ドレインに何を育てますか?
答え:SiGe(シリコンゲルマニウム)です。
nチャネルは、引っぱる:リンや炭素を加えたシリコン
電子を使う、nチャネルのトランジスタでは、反対に、板を引っぱる歪みが、電子を動きやすくする傾向があるとされています。そのため、ソース・ドレインに、リンや炭素を加えたシリコンを育てる方法が、考えられています。このように、pチャネルとnチャネルでは、かける歪みの向きが、逆になります。

- 押される側の薄い板
- pは押し縮める
- nは引っぱる
確認クイズ:nチャネルでは、板にどんな歪みが、電子を動きやすくしますか?
答え:引っぱる歪みです。
数字で考えてみよう:移動度が2倍だと、何が変わる?
歪みの効果を、数字で考えてみます。電気の動きやすさを表す「移動度」が高いほど、同じ電界のもとで、電気を運ぶ粒(キャリア)は、速く動きます。おおまかには、移動度が2倍になれば、同じ電界のもとで、キャリアの速さも、およそ2倍になります(簡単な近似です)。
実際に、ある報告では、SiGeのチャネル(Geの割合0.35、シリコンのふた付き)の正孔の移動度が、シリコンの板のチャネルより、ほぼ100%、つまり、およそ2倍高い、と報告されています。この報告では、SiGeの板に、およそ1ギガパスカルの圧縮の力がかかっていると見積もられています。ただし、これは、ソース・ドレインではなく、チャネルそのものをSiGeにした、別の方法の結果です。
確認クイズ:移動度が2倍になると、同じ電界のもとで、キャリアの速さは、おおまかにどうなりますか?
答え:およそ2倍になります(簡単な近似です)。
GAAで、歪みをかけにくくなった理由
ところが、GAAのナノシートでは、十分な歪みをかけることが、難しくなっています。理由は、大きく2つです。
1つ目は、トランジスタが小さくなるにつれて、歪みをかけるための結晶(ソース・ドレインのSiGe)の体積が、小さくなることです。体積が小さいと、板を押す力も、弱くなります。
2つ目は、育てた結晶に、結晶の欠陥ができたり、歪みが緩んだりして、せっかくの力が、失われることです。歪みは、弾性的な緩みや、結晶のずれ(塑性的な緩み)によって、失われます。そのため、結晶を育てる土台は、欠陥の量が、基準以下でなければならない、と考えられています。

- 結晶に欠陥ができると
- 歪みが緩む
- 力が板まで届かない
確認クイズ:GAAで、歪みをかけにくくなった理由は、何ですか?
答え:結晶の体積が小さくなることと、欠陥や緩みで、力が失われることです。
工夫:土台の質を上げる、チャネルそのものを変える
対策の1つは、ソース・ドレインを育てる土台の、欠陥を減らして、歪みが失われないようにすることです。もう1つは、先ほどの例のように、チャネルそのもの(板)を、歪んだSiGeに置き換える方法です。この方法では、板のシリコンを細く削ったあと、チャネル解放のあとで、SiGeを選んで育てる、という手順が説明されています。
どの方法を選ぶかは、狙う性能や、製造のしやすさによって、変わります。
確認クイズ:歪みを保つための、対策の1つは、何ですか?
答え:結晶を育てる土台の、欠陥を減らすことです。
現場の視点:歪みを測る
歪みは、目に見えません。そのため、歪みが、本当にかかっているかを、測ることも、重要です。先ほどの報告では、電子線の回折を使う方法(PED)で、板の歪みを測り、およそ1ギガパスカルの圧縮の力を、見積もっています。こうした、歪みの計測は、半導体の「検査・計測」の仕事につながります。
確認クイズ:歪みを、確かめるために、何をしますか?
答え:電子線の回折などの方法で、歪みを測ります。
歪みの効果は、トランジスタ1つ1つの、わずかな差に見えるかもしれません。しかし、チップには、何十億個ものトランジスタが並ぶため、1つ1つの動きやすさの差が、全体の速さと、消費電力に、大きく響きます。そのため、歪みの工夫は、先端の工程で、重要な位置を占めています。
ことばのおさらい
- ソース・ドレイン:板の両端にある、電気の入り口と出口です。
- エピタキシャル成長:結晶の上に、結晶の層を育てる方法です。
- 歪み:結晶の格子が、伸び縮みした状態です。
- 移動度:電気を運ぶ粒の、動きやすさです。
- 正孔:プラスの電気を運ぶ粒です。pチャネルで使われます。
よくある誤解
Q. 歪みは、かけるほど、よいのですか?
いいえ。歪みは、結晶に、欠陥ができると、失われます。また、歪みの向きは、pチャネルとnチャネルで、逆です。目的に合わせて、向きと大きさを、そろえる必要があります。
Q. ソース・ドレインは、歪みをかけるためだけに、あるのですか?
いいえ。ソースとドレインは、板に、電気が出入りする入り口と出口で、これが本来の役目です。歪みをかけることは、そこに加わった、もう1つの役目です。
Q. 以前の記事の、SiGeと、今回のSiGeは、同じ役目ですか?
いいえ。以前の記事では、SiGeは、あとで取り除く層として、板のあいだに、はさんでいました。今回のSiGeは、ソース・ドレインとして、残り、板を押し縮める役目をします。同じ材料でも、工程によって、役目が違います。
まとめ
ソースとドレインは、板の端から、結晶を育てて作り、その結晶で、板に歪みをかけます。
pチャネルでは、SiGeで押し縮めて正孔を、nチャネルでは、引っぱって電子を、動きやすくします。
GAAでは、体積が小さく、欠陥で歪みも失われるため、歪みをかけにくく、土台の質などの工夫が必要です。
次の記事では、このソース・ドレインに、配線をつなぐ、最初の接点を、説明します。
付記:この記事の根拠
| 記事の内容 | 主な根拠 |
|---|---|
| ソース/ドレインは、ナノシートの露出した端から、エピタキシャル成長させる | S01 IBM特許 |
| SiGeのソース/ドレインは、Siのチャネルに圧縮歪みを入れうる。PFETは圧縮、NFETは引っ張りの歪みで移動度が上がる傾向。CやPを加えたSiでも歪みを入れうる | S01 |
| SiGeの格子はSiより大きい(SiとGeの中間) | S02 TU Wien博士論文 |
| チャネルの歪みの調整は重要。ソース・ドレインのSiGeの体積の減少と、欠陥による緩みが、効果を弱める | S03 IBM Research(学会発表要旨)、S01 |
| SiGeチャネルの正孔移動度は、シリコンの板の、ほぼ100%高い。圧縮はおよそ1ギガパスカルと見積もり(PEDによる測定) | S03 |
| 歪みの緩み(弾性・塑性)と、成長の土台の欠陥量の条件 | S01 |
| 「SiGeが板を押し縮める」「移動度が2倍ならキャリアの速さもおよそ2倍(簡単な近似)」「ソース・ドレインは出入り口であり、力をかける道具」「トランジスタの数が多いので、1つ1つの差が全体に響く」 | 上の資料からの説明・近似(資料がそのまま述べたものではありません) |
参考にした公式情報
- IBM特許 US12268020B2「Source or drain template for reducing strain loss in spaced-apart nanosheet channels」
- S. Dhar「Analytical Mobility Modeling for Strained Silicon-Based Devices」(TU Wien)2.1節
- Mochizukiほか(IBM Research)「Compressive Strained Si1-XGex Channel for High Performance Gate-All-Around Nanosheet Transistors」(242nd ECS Meeting, 2022)
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